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	MET-UDA超聲波硬度計(jì)
特價(jià):41000.00
	
	測(cè)量原理: UCI-超聲波接觸阻抗
MET-UDA超聲波硬度計(jì)硬度測(cè)試方法是基于壓頭在壓入試件的過程中,對(duì)有限的接觸面本身的彈性特質(zhì)引起的共振棒的頻率的改變的測(cè)試而獲得試件硬度的一種測(cè)量方法。表述為用一個(gè)校準(zhǔn)過的儀器以一固定力擠壓一個(gè)帶有維氏金剛石壓頭的共振棒至被測(cè)件的表面。
MET-UDA超聲波硬度計(jì)功能:
?能測(cè)量多金屬的硬度,從薄件到非常大的部件
?能以多不同的硬度制顯示測(cè)試結(jié)果:硬度制: HRC, HRB, HRA, HB, HV, HRN, HRT, HS, HL?能通過USB接口將擴(kuò)展內(nèi)存單元的數(shù)據(jù)輸出到電腦
	MET-UDA超聲波硬度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)配置
? 主機(jī)
? 15牛 (1.5千克力)手持探頭
? 校準(zhǔn)用 HRC試塊
? 客戶手提箱
? 電池充電器
? 操作手冊(cè)功能:
? 菜單操作,簡(jiǎn)單易讀
? 大屏液晶顯示,帶背光
? USB 接口
? 自動(dòng)轉(zhuǎn)換:布氏,洛氏C,洛氏B,維氏,里氏
? 自動(dòng)求平均值
? 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能
MET-UDA超聲波硬度計(jì)技術(shù)參數(shù):
| 
				 
					數(shù)據(jù)  | 
			
				 
					MET-UDA  | 
		
| 
				 
					探針類型  | 
			
				 
					UCI 15N或50N/里氏探頭  | 
		
| 
				 
					示值誤差  | 
			
				 
					標(biāo)準(zhǔn)試塊的*少5個(gè)測(cè)試值的平均值的+/- 3.0%  | 
		
| 
				 
					測(cè)量范圍:  | 
			
				 
					HRC : 20-67  | 
		
| 
				 
					可測(cè)試材料  | 
			
				 
					鋼&鑄鋼,合金工具鋼,不銹鋼,灰口鑄鐵,球墨鑄鐵,鑄鋁,黃銅,青銅,熟銅合金。  | 
		
| 
				 
					*小厚度  | 
			
				 
					1.0mm (鋼)  | 
		
| 
				 
					電池類型  | 
			
				 
					NiMH (c) 鎳氫電池  | 
		
| 
				 
					工作環(huán)境  | 
			
				 
					-15-40°C  | 
		
| 
				 
					尺寸(僅主機(jī))  | 
			
				 
					184 x 80 x 43mm  | 
		
| 
				 
					重量(僅主機(jī)) :  | 
			
				 
					771 g  | 
		
	UCI探頭和動(dòng)態(tài)壓頭的技術(shù)參數(shù):
| 
				 
					測(cè)試裝置  | 
			
				 
					UCI  | 
			
				 
					動(dòng)態(tài)壓頭  | 
		
| 
				 
					長(zhǎng)度:  | 
			
				 
					160mm  | 
			
				 
					140mm  | 
		
| 
				 
					直徑  | 
			
				 
					25mm  | 
			
				 
					25mm  | 
		
| 
				 
					壓痕深度  | 
			
				 
					30μm  | 
			
				 
					300 μm  | 
		
| 
				 
					壓力  | 
			
				 
					14.7N  | 
			
				 
					11Nm  | 
		
| 
				 
					傳感器測(cè)試壽命  | 
			
				 
					200,000  | 
			
				 
					50,000  | 
		
| 
				 
					*小測(cè)試厚度  | 
			
				 
					1mm  | 
			
				 
					12mm  | 
		
| 
				 
					*小測(cè)試半徑  | 
			
				 
					5mm  | 
			
				 
					10mm  | 
		
| 
				 
					*大表面粗糙度  | 
			
				 
					Ra 2.5 μm  | 
			
				 
					Ra 3.2 μm  | 
		
| 
				 
					數(shù)據(jù)存儲(chǔ)  | 
			
				 
					100個(gè)測(cè)試值  | 
			
				 
					100個(gè)測(cè)試值  | 
		
| 
				 
					測(cè)試時(shí)間  | 
			
				 
					4秒  | 
			
				 
					2秒  | 
		
	
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